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簡要描述:TD16594 型鎢燈絲掃描電鏡 材料檢測屬于模塊化掃描電子顯微鏡設備,搭載鎢燈絲電子光源,支持高真空、可變壓力 VP、擴展壓力 EP 多種真空工作模式,非導電、含水樣品可無需噴金直接成像;配備二次電子與背散射雙探測器,搭配 SmartSEM 雙版本操作軟件,既可完成樣品微觀表面形貌觀測,也可外接能譜附件開展微區(qū)成分分析。
產(chǎn)品型號:TD16594 型
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2026-08-26
訪 問 量:9詳細介紹
| 品牌 | 天棋星子 | 價格區(qū)間 | 100萬-200萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,機械設備 |
產(chǎn)品概述
TD16594 型鎢燈絲掃描電鏡 材料檢測屬于模塊化掃描電子顯微鏡設備,搭載鎢燈絲電子光源,支持高真空、可變壓力 VP、擴展壓力 EP 多種真空工作模式,非導電、含水樣品可無需噴金直接成像;配備二次電子與背散射雙探測器,搭配 SmartSEM 雙版本操作軟件,既可完成樣品微觀表面形貌觀測,也可外接能譜附件開展微區(qū)成分分析,兼顧工業(yè)質(zhì)量管控、失效分析、材料科研以及部分生命科學樣品觀測,成像穩(wěn)定,操作友好,適配多行業(yè)實驗室檢測需求。
儀器用途
用于樣品微觀表面形貌觀測、微觀結(jié)構(gòu)表征;可搭配能譜附件完成微區(qū)成分分析,廣泛用于工業(yè)質(zhì)量管控、失效分析、材料科研、部分生命科學樣品觀測,實現(xiàn)樣品微觀形貌成像、顆粒觀測、缺陷分析等工作。
適用范圍
材料領(lǐng)域:金屬、陶瓷、高分子、復合材料、粉體樣品,觀測晶粒、斷口、腐蝕、涂層、顆粒形貌;
工業(yè)質(zhì)控與失效分析:電子元器件、零部件缺陷檢測、斷口失效分析;
科研領(lǐng)域:材料科學、地質(zhì)礦物、部分含水非導電樣品(可變壓力模式)。
執(zhí)行標準
GB/T 16594?2008《微米級長度的掃描電鏡測量方法通則》
JJF 1916?2021《掃描電子顯微鏡校準規(guī)范》
JY/T 0584?2020《掃描電子顯微鏡分析方法通則》
主要功能
1. 鎢燈絲電子源,支持高真空、可變壓力 (VP)、擴展壓力 (EP) 多種真空模式,非導電樣品可無需噴金直接成像;
2.SmartSEM 操作軟件,同時支持觸屏 SmartSEM?Touch 與電腦端 SmartSEM 兩套操作界面,新手與專業(yè)人員均可操作;
3. 二次電子 SE、背散射 BSE 成像,獲取形貌、成分襯度圖像;
4. 圖像采集、測量標注、圖像存儲導出、報告生成;
5. 可外接 EDS 能譜儀接口,實現(xiàn)微區(qū)元素分析。
功能特點
1. 多真空模式設計
具備高真空、可變壓力 VP、擴展壓力 EP 工作模式,非導電、含水樣品無需噴金鍍膜,可直接開展成像觀測,拓寬樣品適用范圍。
2. 雙操作交互系統(tǒng)
搭載 SmartSEM 與 SmartSEM?Touch 兩套操作界面,支持電腦鼠標操作與觸屏觸控操作;新手可快速上手,專業(yè)人員可調(diào)用全部高級參數(shù),兼顧科研與工業(yè)檢測使用。
3. 高性能成像探測
配備二次電子 SE、背散射 BSE 雙探測器;二次電子獲得樣品表面形貌信息,背散射實現(xiàn)成分襯度成像,可區(qū)分樣品不同物相組分。
主要技術(shù)參數(shù)
電子光源:鎢燈絲
放大倍率:7~1000000×
分辨率:3.0nm @30kV(高真空 SE);4.0nm @30kV 可變壓力模式
加速電壓:0.2?30kV
探針電流:0.5pA~5μA
真空模式:高真空、可變壓力 VP(10?400Pa)、擴展壓力 EP 模式
樣品室最大樣品直徑:230mm;最大樣品高度:130mm
電動載物臺 XYZ 行程:100mm ×90mm ×50mm
探測器:二次電子探測器 SE;背散射電子探測器 BSE
配套軟件:SmartSEM / SmartSEM Touch 觸屏軟件
整機尺寸(寬 × 深 × 高):約 822mm ×980mm ×1783mm
整機重量:約 650kg
售后服務
整機出廠經(jīng)過完整調(diào)試檢測,配套全套操作手冊,提供遠程技術(shù)指導,后期可提供儀器維修、校準咨詢服務。
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